Грунтовка укрепляющая SILTEK Force ER-2

Описание Грунтовка укрепляющая SILTEK Force ER-2

Укрепляющая грунтовка SILTEK Force ER-2 — это высокоэффективный продукт для глубокого проникновения, разработанный для укрепления пористых, хрупких и рыхлых поверхностей. Грунтовка значительно улучшает адгезию между основанием и финишными отделочными материалами, такими как шпаклевки, штукатурки, краски и другие покрытия. Она снижает водопоглощение основы, что обеспечивает равномерное нанесение последующих покрытий и продлевает срок их службы.

SILTEK Force ER-2 подходит для внутренних и наружных работ, обеспечивая надежную подготовку оснований из бетона, цементно-песчаных растворов, газобетона, гипсокартона и других пористых поверхностей. Благодаря своим свойствам, этот продукт значительно увеличивает прочность слабых оснований.

Характеристики:

• Тип продукта: Укрепляющая грунтовка глубокого проникновения
• Название: SILTEK Force ER-2
• Назначение: Укрепление пористых и слабых поверхностей, улучшение адгезии
• Состав: Водная дисперсия с полимерными добавками для улучшения укрепления и адгезии
• Вес упаковки: В зависимости от варианта (5 л, 10 л)
• Время высыхания: 4-6 часов (в зависимости от температуры и влажности)
• Температура применения: От +5°C до +30°C
• Расход: Примерно 0,1-0,2 л/м² (в зависимости от пористости основания)
• Глубина проникновения: Глубокое проникновение в поверхность, обеспечивающее укрепление структуры основания
• Снижает водопоглощение: Обеспечивает равномерное нанесение отделочных материалов и их экономичный расход
• Адгезия: Высокая адгезия к пористым и слабым поверхностям
• Паропроницаемость: Оставляет поверхность «дышать»
• Стойкость к атмосферным условиям: Подходит для внутренних и внешних работ
• Хранение: В сухом месте при температуре от +5°C до +30°C, защищенном от замерзания и прямого солнечного света

Грунтовка SILTEK Force ER-2 обеспечивает надежное укрепление оснований и повышает эффективность последующих отделочных работ, делая поверхности стойкими к внешним воздействиям и эксплуатационным нагрузкам.